디지털테스터기로 콘덴서,TR, FET 레귤레이터 특성판별(양부)

http://www.datasheetcatalog.org 에서 데이터시트를 찾아 보는 것이 정석이겠지만, 양부를 빠르게 판별할때도 필요하다, 아래는 그 방법을 적어 보았습니다.

내가 사용하고 있는 테스터기는 새한 3235(콘덴서용량측정가능한) 디지털 테스터기 입니다.

각종 수리서적에서는 아날로드테스터기로 측정하는 방법을 설명하고 있지만, 개인적으로 아래 방법이 가장 간단한 방법이라고 생각 됩니다.

주의) 물론 알고 있겠지만,콘덴서 및 다이오드 모드측정시 전압은 제거하고 측정해야 합니다.

 

*콘덴서 불량 측정

우선 디지털 테스터기를 [콘덴서 모드]로 레인지를 조정한다.

불량은 첫번째는 육안검사(전해콘덴서 누액과 융기된부분, SMD콘덴서 탄부분)로 가능하고, 두번째는 위 테스터기로 용량을 측정해서, 콘덴서에 적힌용량과 차이가 나면 교체해야 할 부품입니다.

 

*트랜지스터와 FET불량 측정

우선 디지털 테스터기를 [다이오드 모드]로 레인지를 조정한다.(다이오드측정시 합선테스트도 가능하다)

 

*TR(트랜지스터- 2개의 다이오드와 베이스극이 합친 물리적 구조를 갖는다. 그래서 3극관이라고도 한다)

아래는 이해를 돕기위해 PNP형 트랜지스터 회로도를 만들어 보았다.

: 측정방법 디지털테스터기의 [다이오드 모드] 레인지로 조정한다.

: FET와는 반대로 디지털테스터기 한쪽 단자로 검사 했을 때 나머지 2단자가 동일한 작동전압(0.3~0.8V 사이)가 나오면 정상이고, 해당 단자쪽이 B(베이스)극 임을 나타낸다.

  - NPN형 일때 나머지 2단자중 - (접지) 쪽이 도통한 쪽이 E극(이미터-FET의 소스 출력S극)

  - PNP형 일때 나머지 2단자중 콘덴서 + 쪽과 도통한 쪽이 C극(컬렉터-FET의 드레인 출력D극)

 -  불량일때는  B(베이스)극 측정시 도통테스트때처럼 부저가 울린다.

 

*리니어방식 FET레귤레이터(전압안정기 예, 메인보드 대기전압 입력5VSB 를 3.3V로 출력해 주는 장치)

  - 조성방식: 리니어FET -> 콘덴서 -> 부하(IC) 와 연결되어 있으면 리니어FET (LDO) 로 여기면 된다.

    아래는 이해를 돕기 위해 LDO 회로를 만들어 보았다. 

 

: 리니어FET(LDO) 측정방법 디지털테스터기의 [다이오드 모드] 레인지로 조정한다.

: 트랜지스터와는 스위칭FET와는 다르게 피드백을 부분( ADJ-OUT )을 찾고-측정시 부저가 울린다(정상)-

  그 후 IN부분을 찾는다.(IN-OUT  측정시 한쪽만 작동전압(0.3-0.8V)이 생기면 정상이다.(이 부분이 IN극)

  - 불량일때는 IN-OUT 측량시 부저가 울리거나, 작동전압이 발생되지 않는다.

 

*스위칭방식 FET 레귤레이터(정류기 예, 입력12V를 출력 5V로 변환해서 출력해 주는 장치)

  - 보통 회로판의 색상이 들어가 있는 쪽이 G(게이트단), 출력(드레인)쪽이 -> 콘덴서 + 병렬방식 + 코일(인덕터) -> 부하(IC또는CPU) 와 연결되어 있으면 스위칭 FET 로 여기고,

아래는 이해를 돕기 위한 회로도를 만들어 보았다.

 

PNP형 FET

 

NPN형 FET

 

: 스위칭FET 측정방법 디지털테스터기의 [다이오드 모드] 레인지로 조정한다.

: 트랜지스터와는 반대로 디지털테스터기 한쪽 단자로 검사 했을 때 나머지 2단자가 동일한 작동전압이 나오면 정상이고, 해당 단자쪽이 G(게이트)극 임을 나타낸다.

  - N채널 일때 나머지 2단자중 - (접지) 쪽과 도통한 쪽이 S(소스)출력 극

  - P채널 일때 나머지 2단자중 콘덴서 + 쪽과 도통한 쪽이 D(드레인)출력 극

  - 불량일때는  G(게이트)극 측정시 도통테스트때처럼 부저가 울린다.

참고: 스위칭 회로구성 ( 리니어 FET는 여기서 PWM과 코일이 없이 작동한다 )

드라이버/PWM(펄스 모듈)IC -> FET -> 콘덴서+(병렬구조)+코일 -> 구동 IC칩